电阻率及型号测试仪

电阻率及型号测试仪 硅半导体测试仪型号：JX2008 

产品说明  
JX2008 电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能 
综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和 
轴向电阻率，于半导体及太阳能行业的筛选。  
 JX2008 电阻率及型号测试仪 产品特点  
1仪器采用 220V 交流电源供电。  
2  同时检测硅半导体材料的电阻率和型号两项指标。  
3  拥有较高的电阻率测试分辨率， zui小可到0.001欧姆.厘米。   
4  能的分辨电阻率在0.002欧姆.厘米以上的硅半导体材 
料型号。  
5  独立的 P/N 型重掺告警设置，便于工厂大规模快速选料。  
6  适中的体积和便携性。  
7  简单的操作，快速的测试。  
8  低廉的价格，很高的性价比。  
1.具有电阻率及型号测试功能，适合分选型号，并能够测试并显示出电阻率的值。  
2.电阻率分档直观，P/N报警门限分设。  
3.预设样片厚度，自动修正，直读电阻率  
4.P/N分选精度强  
5.交流电AC220V供电  
6.主机尺寸：155×120×50mm  
6.电阻率:0.001-100欧姆厘米  
7.P/N型号:0.05欧姆厘米<电阻率<100欧姆厘米