自动炭块电阻率测定仪

自动炭块电阻率测定仪   型号：ISO-III
本仪器是用于测定铝用阴、阳炭块电阻率的设备。 
研制依据 
该设备依据标准ISO11713进行设计制造（国内行业标准为YS/T63.2-2006）.ISO11713标准中规定铝用炭素材料中阴炭块和预焙阳室温下电阻率的测定方法是：采用稳定直流电流通过一定横截面积的固定样品，测出两个截面之间的电压降，计算出该试样的电阻率。 
设备概述 
本公司采用美国进口的气动探针组，十万次伸缩*。采用良好的气动探针组，并利用气动方法使一次动作、四个探针组同时自动接触试样表面，来获得四组不同的电阻率。这样可以保证测试结果导电率的zui大平均性，测试方法自动、简单、可靠。 
设备主要技术指标 
测定方法：按照ISO-11713规定（YS/T63.2-2005） 
样品长度：130±0.2mm 
样品直径：50mm±0.09mm 
测试电间距：50mm 
测量电流：5A 
电流测量精度：0.01A 
电压测量精度：0.5%mV 
电源电压：220V，50Hz 
设备功率：100w 
设备尺寸：950×450×630mm 
设备重量：30kg 
重复性：r＜1.0μΩm自动炭块电阻率测定仪

产品名称：智能片剂四用仪  产品型号：SY-3CZ

智能片剂四用仪 型号：SY-3CZ         
智能片剂四用仪，分别用于药片的硬度、脆碎度、崩解时限、溶出度的测试，是其理想的一机多用药检测试仪器。  
●溶出数量　　３个  
●温控范围　　（２０～４０）℃±０．３℃  
●调速范围　　（２０～２００）ｒｐｍ±２ｒｐｍ  
●定时范围　　（１～９００）ｍｉｎ±０．５ｍｉｎ  
●桨杆摆动　　±０．５ｍｍ  
●转篮摆动　　±１．０ｍｍ  
●吊篮数量　　２个  
●往返频率　　（３０～３２）次／分  
●往返行程　　（５５±２）ｍｍ  
●圆筒数量　　１个  
●圆筒尺寸　　内径２８６ｍｍ　深度３９ｍｍ  
●滑落高度　　１５６ｍｍ  
●圆筒速度　　（２５±１）转／分  
●圆筒圈数　　（１００±１）圈  
●硬度范围　　（２～１９９）Ｎ±１Ｎ  
●直径范围　　（ ３～４０）ｍｍ  
●电源　　　　２２０Ｖ／５０Ｈｚ／６００Ｗ  
●外型尺寸　　（５２×３８×４７）ｃｍ３  
主要特点:  
●智能化，自动控制、自动检测、自动诊断、自动报警。  
●采用磁性水泵循环水流匀热系统，水浴温度均匀。  
●自动控制温度，温控精度高。  
●自动控制时间，自动定时停机。  
●可以随意预置参数；分时显示预置值和实时值。  
●溶出三杯三杆，一字单排；机头部分手动翻转，平稳灵活。  
●溶出转蓝及桨杆等采用进口ＳＵＳ３１６Ｌ不锈钢。  
●崩解两路同时运行，自动定时停机。  
●脆碎自动控制圆筒旋转速度及转动圈数控制精度高。  
●硬度高精度压力传感器，数字显示硬度值。  
●连续测量片剂的硬度值，人工装片，电机控制,自动加压。  
●自动显示，自动锁存，自动复位，自动循环测试  
 

产品名称：砂表面硬度计/砂表面硬度仪  产品型号：TC-SYS-B

砂表面硬度计/砂表面硬度仪     型号：TC-SYS-B 
TC-SYS-B型砂表面硬度计用于测定砂型（芯）的表面硬度  

　　　　压缩行程　　　　２.５毫米  
　　　　大负荷　　　　９８０克  
　　　　预压负荷　　　　５０克  
           压头球形　　　　Ｒ为１２.７  
TC-SYS-A、TC-SYS-B、TC-SYS-C型硬度计 
一、概述 A、B、C三种型号的砂型表面硬度计，是用来测定湿模砂型（芯） 的表面硬度，为制订造型工艺提供技术参数，其结构由带齿条压头（1）、表头（2）、表壳（3）、计力弹簧（4）、传动齿轮（8）、回转齿轮（14）、指针（15）、调整圈（16）等组成。A型：于手工或机械低中压造型的细砂型（芯）的表面硬度测试。B型：于手工或机械低中压造型的细、粗砂型（芯）的表面硬度测试。C型：于造型的砂型表面硬度测试。 
二、主要技术参数 
 1、精度：（1）       准确度：±2.5% 
（2）       指针指向100和恢复零位允许 ±0.5格。 
（3）       工作环境温度：5-50℃ 
 2、外形尺寸：67.5X48.5X29 
 3、技术参数： 
名称/参数/型号A型B型C型 
压缩行程250MM2.50MM2.50MM 
大负荷237g980g1500g 
予压负荷90g50g180g

产品名称：杂质浓度测试仪 产品型号： KDB-1A

产品简介 
原理：根据硅、锗单晶的迁移率、电阻率和杂质浓度的关系，可直接测量、计算出晶体内的杂质浓度。  
范围：它适合于测量横截面尺寸是可测量的，而且棒的长度大于横截面线度的有规则的长棒，例如横断面为圆形、正方形、长方形或梯形的单晶或多晶锭。  
用途：根据测量沿锭长杂质浓度的分布状况决定产品的合格部分，通过杂质浓度的直接测量，决定晶体生长过程中的掺杂数量。  
样品可在常温或低温下测量。  
显示方式：仪器连接PC机，通过测试软件计算，用对数坐标的方式来显示杂质浓度（含次方数）沿锭长的分布曲线，可对曲线图进行打印和保存。  
测量范围： 可测晶体电阻率：0.005-3000Ω·cm。  
直流数字电压表测量范围：0-199.99mV，灵敏度：10μA。