灰密成套测量装置

灰密成套测量装置 ，是本公司根据我国电网防污闪工作的需要，配合电网污秽等级划分的新标准而的“灰密”成套测量装置。灰密是指缘子表面层的污秽不可溶成分，非可溶残渣的含量—灰密（NSDD）而污秽等级需要等值附盐密和灰密组合才可确定，通常污秽度中盐密和灰密之间的关系是在5～10倍之间较分散，只有进行灰密测量才能正确确定污级。该装置符合GB/T16434—200*《污秽条件下缘子的选择和尺寸确定第1部分：定义、信息和一般原则》（代替GB/T 16434-1996、GB/T 5582-1993、JB/T 5895-1991）和电网公司Q/GDW152—2006《架空线路和变电站环境污区分级及外缘选择标准》规定的要求。YLHM型灰密成套测量装置包含：精密电子天平分析、电气干燥控制、测量过滤加速器及测量附件等几部分组成。 

二、技术参数

三、功能特点 

1、灰密称重分析部分配有的高精度称重分析天平，它具有数字化多点线性修正；具有数字化多点漂移修正；具有开机自检功能；测量可以选择多种模式；具有“去皮”功能 

2、配以电热恒温干燥箱，具有温度自整定，自动控制系统可保持箱内恒温；具有*的多层搁版，具有一次干燥更多试品能力；工作室采用“冷热空气对流”技术，保证箱内空气自动变换；有大示窗便于观察。 

    我公司为配合现场灰密测量工作，了“灰密辅助加速器”真空加速利用优化应力分布新技术，带动负载能力大，可以长时间对密闭容器抽真空，加速能力高，使用寿命更长，能够大大提高灰密测量的速度，按照新标准规定进行灰密测量时，在保证测量准确性的前提条件下，采用“灰密辅助加速器”可以加速过滤时间缩短测量时间。

五、灰密测量辅助加速器特点

（1）无污染传输、免维护；大流量，操作简便；

（2）允许介质富含水汽，防水蚀性好； 功耗小，噪音低；

（3）抽取真空和输出压缩空气两用；

（4）根据工作需要可以调节负压系统.

产品名称：* 防爆激光测距仪 产品型号： YHJ1000

 * 防爆激光测距仪型号：YHJ1000 
  
防爆标志Ex ia IICT3 Ga 
自带双水平泡  测量更精准 
水平与垂直双方向的水平仪设置，让用户在实际测量时可参照，测量更精准。 
防尘等级 IP5X：防止有害的粉尘堆积。 
防水等级 IPX4：液体由任何方向泼到外壳时不会受到伤害。、 
量程  0.05-100m  
精度  ±1.5mm  
测量单位  m/in/ft/ft+in  
激光等级  Class 2M II  
激光类型  635nm,＜1mW  
单次测量、连续测量、zui大/zui小值测量、面积/体积测量、间接勾股定理测量  
蜂鸣器、四行照明显示  
按键类型  软胶按键  
按键寿命  过100万次  
电池类型  TypeAAA2*1.5V  
电池寿命  可达5000次测量  
防护等级  IP54  
操作温度  0℃~40℃  
存储温度  -10℃~60℃  
历史数据  20组  
自动关闭激光  30秒  
自动关机  180秒  
仪器规格  100*46*31(mm)  
仪器重量  130g

产品名称：雷达物位计 /物位计  产品型号：TC-GDFLEX41

雷达物位计 /物位计     型号:TC-GDFLEX41

产品技术指标 
类别 TC-GDFLEX41 TC-GDFLEX41 TC-GDFLEX41 
应用 液体、固体颗粒  液体、固体颗粒 液体，界位 
测量范围 35 m 6 m 6 m 
过程连接 螺纹、法兰 螺纹、法兰 法兰 
过程温度 -40...160℃ -40...160℃ -40...350℃ 
过程压力 -1.0...40bar -1.0...40bar -1.0...60bar 
精度 ±3mm ±3mm ±1mm 
频率范围 8.4GHZ 8.4GHZ 10.2GHZ 
防爆防护等级 EXiaIICT6/IP68 EXiaIICT6/IP68 EXiaIICT6/IP68 
信号输出 4-20mA/HART(两线)
Profibus PA 4-20mA/HART(两线)
Profibus PA 4-20mA/HART(两线)
Profibus PA 
 
TC-GDFLEX40系列可用于连续测量液体及固体粉料、粒料及液体的物位
缆式探头：主要用于测量液体及固体料位，大测量距离35米
杆式探头：主要用于液体
同轴杆式探头：用于液体
可向系统提供以下信号接口：HART，4…20Ma；PROFIBUS-PA；基金现场总线

产品名称：SX1934D型二合一数字式四探针测试计 产品型号：SX1934D

 SX1934D型二合一数字式四探针测试计 
 产品说明 
SX1934D型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低、中值电阻进行测量，于半导体、太阳能行业的筛选。 
产品特点 
 　　仪器由主机、测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果由数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头高分子材料和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点(自动调零)。可鉴别半导体PN类别。

详细参数